Описание набора эталонов для систем цифровой радиографии CR PHANTOM
Набор эталонов для проверки систем цифровой радиографии CR PHANTOM позволяет проверять качество различных характеристик и параметры систем в соответствии со стандартами EN 14784-1, ASTM E 2445.
Содержит все необходимые эталоны и дополнительно два дуплексных эталона. Измерение точек коррекции затенения производится в двух направлениях. Вся требуемая информация оказывается на запоминающей пластине всего за одну экспозицию, не требуется поворачивать CR PHANTOM для получения информации в другом направлении. Такие результаты являются более точными и экономят время.
Набор позволяет проверять все параметры систем компьютерной радиографии, включая базовое пространственное разрешение, нерезкость, контрастность, MTF, дрожание лазерного луча, эффект проскальзывания, эффект затенения. Порядок и периодичность проверки данных характеристик описаны в стандартах ASTM E 2445 и EN 14784-1.
Особенности
- набор компактный: 20 см в высоту и 27,5 см
в ширину; - включает шаблоны отчётов и процедуры контроля;
- деревянный футляр защищает набор при хранении и транспортировке.
Элементы набора
| T-мишень из латуни | дрожание лазерного пятна, функция MTF, затекание |
| Дуплексный эталон с пятандцатью парами проволочек (15 D) | базовое пространсвенное разрешение, нерезкость |
| Улитка BAM | выравнивание по центру пучка |
| Эталон пар линий | пространственное разрешение |
| Точки измерений | коррекция затенения |
| Индикатор положения кассеты | положение кассеты |
| Однородная алюминиевая полоса | проскальзывание сканера |
| Линейка см/дюйм | проверка на линейность |
| Эталон контрастной чувствительности | контрастная чувствительность |
| Пластина из оргстекла | пластина-держатель |
