Описание структроскопа ВЭ-26НП
Структуроскоп ВЭ-26НП предназначен для неразрушающего контроля качества изделий из немагнитных сплавов на основе алюминия или меди при помощи измерения их удельной электрической проводимости.
ПРИМЕНЕНИЕ ВЭ-26НП
Сортировка изделий по удельной электрической проводимости или ее приращению относительно некоторого базового значения и контроль различных механических характеристик электропроводящих неферромагнитных материалов при наличии экспериментально установленных корреляционных связей между удельной электропроводимостью и этими характеристиками.
Встроенный термометр позволяет учесть влияние температуры окружающей среды и повысить точность измерения.
Память сохраняет 4096 измерений для последующей передачи на ПК.
Технические характеристики
Диапазон измерений абсолютного значения удельной электрической проводимости, МСм/м
|
5...60
|
Диапазон измерений приращений удельной электрической проводимости, МСм/м
|
9,99...+9,99
|
Предел допускаемой основной относительной погрешности измерений, %, не более
|
— в диапазоне измерений от 5 до 40 МСм/м 2
— в диапазоне измерений от 40 до 60 МСм/м 3
|
Допустимый зазор между преобразователем и поверхностью контролируемого изделия, мм, не более
|
0,25
|
Индикация результатов измерений
|
цифровая
|
Электропитание
|
от батареи типа РРЗ, В 9
|
Потребляемая мощность, мВт, не более
|
40
|
Диапазон рабочих температур, ?С
|
5...40
|
Габариты, мм
|
157 х 84 х 30
|
Масса, г
|
270 ± 20
|